第37回分析電子顕微鏡討論会のお知らせ

主 催:公益社団法人 日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会 

協 賛:軽金属学会、触媒学会、日本表面真空学会、日本材料学会、日本鉄鋼協会、日本セラミックス協会、日本金属学会、日本分析化学会、日本物理学会、応用物理学会

(順不同) 

日 程:2022年12月8日(木)、9日(金)

方 法:オンラインでの開催(Zoomを予定)

定 員150

参加費(予稿集含む):顕微鏡学会員及び協賛学会員(個人会員) 2,500円、 非会員 3,000円、学生 1,500

内 容:分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックスについて講演が行われます。詳細は以下のプログラム(案)をご覧ください。

申 込受付開始しました。氏名、勤務先、所属、住所、電話番号、Fax番号、e-mailアドレス、申込資格(会員・協賛学会員・学生・非会員)をご記入の上、e-mailにて下記連絡先へお申し込み下さい。参加費のお支払方法などについては折り返しご連絡差し上げます。

連絡先:〒819-0395 福岡県福岡市西区元岡744 ウエスト4号館638号室

    九州大学大学院工学研究院材料工学部門

    分析電子顕微鏡討論会事務局 佐藤 幸生

    Tel: 092-802-2971  E-mail: sato.yukio.690@m.kyushu-u.ac.jp

 

プログラム(案)

(2022年10月12日現在)

12月8日(木) 9:30-15:50 

  1. チュートリアル

9:30-     EDSの基礎 金子賢治(九州大学)

10:10-    EELSの基礎 治田充貴(京都大学)

10:50-    STEM法(走査透過電子顕微鏡法)  奥西栄治(日本電子)

11:30-    Q&A(20分)

― 昼休み(11:50-13:30) ―

  1. トピック1 「電子顕微鏡による最先端技法」

13:30-    電子顕微鏡の軟X線発光分光法によるLi分析 高橋秀之、越谷翔悟(日本電子)

14:00-    STEM-EELSによるフォノン計測 吉川純(物質・材料研究機構)

14:30-    電子線タイコグラフィーによる環境関連材料の観察 三石和貴、中澤克昭(物質・材料研究機構)、佐川隆亮(日本電子)

15:00-    超短パルスレーザーを用いた時間分解透過電子顕微鏡の開発と応用 下志万貴博(理化学研究所)

15:30-    Q&A(20分)

 

12月9日(金) 10:00-15:50 

  1. 試料作製

10:00-    試料作製によるダメージ形成のメカニズム 坂口紀史(北海道大学)

10:30-    FIBを用いた無機材料の試料作製 加藤丈晴(ファインセラミックスセンター)

11:00-    材料解析のためのポリマー材料の試料作製 陣内浩司(東北大学)

11:30-    Q&A(20分)

― 昼休み(11:50-13:30) ―

  1. トピック2 「機械学習と分析電顕」

13:30-    微細構造計測データ解析のための統計的機械学習 志賀元紀(東北大学、理化学研究所)

14:00-    機械学習を活用したEELS解析の高度化 溝口照康(東京大学)

14:30-    情報科学的手法を用いた電子線ホログラフィーの高感度化と触媒解析への応用 村上恭和(九州大学)

15:00-    敵対的生成ネットワーク(GAN)による効率的な2D・3D材料組織画像の生成 足立吉隆(名古屋大学)

15:30-   Q&A(20分)